Herstellung von ND: YLF -Rohstoffe nach Schmelzmethode und Untersuchung ihres Kristallwachstums und der Eigenschaften - 03

2 Ergebnisse und Diskussion

Abbildung 4 ist das XRD -Spektrum des mit der Schmelzmethode hergestellten polykristallinen Materialien. Seine Beugungspeakposition und die relative Intensität stimmen im Grunde genommen mit der YLF-Standardkarte (PDF#00-017-0874) überein, und die Übereinstimmung ist gut, was darauf hinweist, dass das Polykristallinmaterial rein istYlfPhase ohne Verunreinigungen wie Fluoroxide, YF₃und life und die Einbeziehung von n³⁺hat keinen Einfluss auf die Struktur des Matrixkristalls. Daher die polykristalline nd: ylf(www.wisoptic.com)Das durch das Schmelzverfahren hergestellte Rohstoff hat eine hohe Kristallphasenreinheit, was die Fähigkeit des Rohstoffs verbessert, Oxidation und Deliqueszenz zu widerstehen, und ein idealer Rohstoff für qualitativ hochwertiges Kristallwachstum ist. Die Analyse zeigt, dass die in dieser Studie verwendete nahezu geschlossene Schmelzgerätstruktur ein Temperaturfeld mit einer sehr gleichmäßigen Temperaturverteilung erhalten kann. Gleichzeitig kann das Schmelzen des Rohstoffmaterials bei einer Temperatur, die etwas höher ist als der Schmelzpunkt von ND: YLF, eine vollständige Reaktion des Rohstoffs erreichen und reine Phase nd: ylf erhalten. Gleichzeitig ist die hohe Reinheit des nd: ylf polykristallinen Rohstoffs weiter garantiert, indem das Fluoroxid auf der Oberfläche der Schmelze vollständig rettet.

Abb. 4 XRD -Muster von polykristallinen Materialien aus der Schmelzmethode

Wie aus Abbildung 3 ersichtlich ist, ist eine Schicht aus weißer undurchsichtiger Verbindung an der Oberfläche des Kristalls gebunden, das durch den gemischten Rohstoff gezüchtet wurde, während auf der Oberfläche des Kristalls keine solche Substanz vorhanden ist, die durch das von der Schmelzmethode hergestellte Rohstoff gewachsen ist. Die weiße Substanz wurde durch XRD getestet und analysiert, und die Testergebnisse sind in Abbildung 5 dargestellt. Das XRD -Spektrum wurde von der MDI -Jade -Software analysiert, und es wurde festgestellt, dass neben YLF auch seine Hauptkomponenten auch eine große Menge an YOF enthielten. Dies kann durch das Vorhandensein von YOF im anfänglichen Rohstoff verursacht werden; Es kann auch durch die Reaktion von YF verursacht werden₃im anfänglichen Rohstoff mit der Spurmenge von H₂O im Wachstumsofen freigesetzt, wenn die Temperatur in der AR -Atmosphäre steigt, wie in gezeigtFOrmula (1) und während des Kristallwachstumsprozesses an der Oberfläche des erwachsenen Kristalls festgehalten.

H₂O＋Yf₃→ Yof＋2HF ↑(1)

Abb. 5 XRD -Weißmuster aus Kristall, die mit gemischten Komponenten Rohstoffen gezüchtet wurden

Die äußere Oberfläche des durch die Schmelzmethode gezüchteten KristallKohlenstoffaus dem Graphit Crucible verwandelt.

Fig. 6 zeigt die einkristallische Schaukelkurve der Probe mit (100) Kristallorientierung. Die Einzelkristall -Schaukelkurve ist eine traditionelle Methode, um die Qualität des Kristalls zu charakterisieren. Je kleiner das FWHM ist, desto besser die Kristallqualität und desto gleichmäßiger die Kristallzusammensetzung und -struktur. Es ist ersichtlich, dass die Schaukelkurve in der Abbildung nur einen einzelnen Beugungspeak aufweist, keine Spaltung auftritt, symmetrisch ist, eine scharfe Spitzenform und eine Breite von 0,007 °, was darauf hinweist, dass der erwachsene ND: YLF-Kristall(www.wisoptic.com)hat eine gute Kristallqualität.

Abb. 6 Röntgen-Schaukelkurvevon ND: Ylf Crystal